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          1. 前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、    X-Ray 等眾多顯微檢測設備)4、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置5、使用要求; 220V,50Hz ,去離子水
          部分可選項:  1.  大水槽,深水槽定制;各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)3.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)使用要求;220V,50Hz ,去離子水如需更為詳細資料,敬請來電來函索取,如軟件、硬件升級,相關參數會有所變更,請以生產廠家確認為準。
          部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率3.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前后排列)、四探頭掃描系統,成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置使用要求;220V,50Hz ,去離子水備注:SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機型,SAM 301  UltraTec 超高速機型(雙馬達配置,掃描速度最高達 2000mm/s)SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機型,根據具體配置予以細分,滿足不同用戶需求;歡迎您來電咨詢,我們會根據您的產品檢測需要,為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級, 相關參數會有所變更,請以生產廠家確認為準。
          部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率3.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前后排列)、四探頭掃描系統,成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置
          1、 掃描臺:第二代High Definition高清晰掃描臺;重復精度 0.05umX / Y 軸均為超高性能線性馬達(Y 軸為雙馬達)X / Y 軸具有內置磁力機構,配置儀器設備專用大理石防震臺和平衡慣性機構,確保掃描的穩定性在高速掃描過程中可隔絕振動的影響,可避免圖像因快速掃描而失真; 2. 前后雙探頭機構,可前后同時反射掃描,2倍單探頭掃描效率; 3. 前后每個探頭各自掃描范圍:最小:200 x 200 μm  最大:320 x 320 mm 4. 可自動尋找被測樣品的中心位置和樣品邊緣尺寸,自動設定掃描范圍 5. 最大掃描速度: 2,000mm/s,  X 軸最大加速度:20,000mm/s2 6. 接收發射器DPR 500帶寬:500MHz 7. ADC 卡采樣頻率:5G/秒 8. 支持探頭頻率:5MHz-400MHz  9. 增益調節窗口:-22dB-50dB, 更多功能高級菜單設置 10. 主要掃描模式:A-掃描、B-掃描、X-掃描 (多層C掃描)、Z-Staple 掃描(在不同的Z高度進行連續的C掃描)、多重門限掃描、T-Scan (透射掃描)、High Quality-高清晰掃描、表面跟蹤掃描、Z-Scan實體掃描模式、托盤矩陣掃描、 Z變換掃描、順序掃描預掃描、自動掃描、空位跳躍掃描、插值掃描、分頻掃描,Over Scan等; 11. 圖像分辨率最大≥ 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um/像素;12.  HiSA 高速實時自動聚焦功能(選項,可選前面1個HiSA 或前后2個HiSA ): 可根據樣品的翹曲情況(5mm以內),在掃描過程中實時調整焦距,即Z軸一邊掃描,一邊實時自動改變...
          USAMInverted 是一款專為高端研發和工業應用開發的超聲波檢測儀器,它必須安裝在防振工作臺上。將超聲波掃描顯微鏡和光學顯微鏡結合起來,允許用戶在兩者之間快速切換。  聲學和光學顯微圖像在x-y方向上的精度低于5μm,用戶可以對樣品的同一區域用聲學和光學的方法進行細致的比較。
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          • 發布時間: 2017 - 12 - 29
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          • 發布時間: 2018 - 01 - 03
            部分可選項:  1.  大水槽,深水槽定制;各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)3.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)使用要求;220V,50Hz ,去離子水如需更為詳細資料,敬請來電來函索取,如軟件、硬件升級,相關參數會有所變更,請以生產廠家確認為準。
          • 發布時間: 2019 - 03 - 12
            部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率3.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前后排列)、四探頭掃描系統,成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置使用要求;220V,50Hz ,去離子水備注:SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機型,SAM 301  UltraTec 超高速機型(雙馬達配置,掃描速度最高達 2000mm/s)SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機型,根據具體配置予以細分,滿足不同用戶需求;歡迎您來電咨詢,我們會根據您的產品檢測需要,為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級, 相關參數會有所變更,請以生產廠家確認為準。
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