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          部分可選項:  1.  德國PVA專利產品Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級3 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備) 七  使用要求;220V,50Hz ,去離子水歡迎您來電咨詢,我們會根據您的產品檢測需要,為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級,相關參數有所變更,請以生產廠家確認為準。
          Auto Wafer 300 設備是一款專門應用于晶圓鍵合在線檢測的設備,可以顯著提升客戶產品的良率與質量。它可以對鍵合晶圓界面的空洞,雜質和分層等缺陷進行無損檢測High Throughput高檢測效率對于所有量產工廠而言時間是最寶貴的,因此Auto Wafer 300設備采用了最優化的4自動對焦探頭結構和高效的晶圓傳輸方式。Adaptability高適應性我們的Auto Wafer 300可適用于客戶不同的環境與規格需求,可滿足Class100凈化等級,并可根據客戶不同的工藝需求進行特殊的產品定制與系統集成。High Level of Automation and Integration 高度自動化與集成度Auto Wafer 300所有的設計方案都是以最佳性能,高分辨率和高檢測效率為目標。l  Scanning System 掃描系統掃描機構使用4軸系統,數字線性馬達驅動和光學編碼器,還使用了慣性平衡裝置來有效消除震動,通過震動消除,樣品上那種非常狹小而精密的層面可以得以被分辨,設置門限和分析.慣性平衡機構同時也提供了當今市場上最快的圖片掃描速度. 高性能高速XY軸線性馬達掃描系統.編碼器分辨率可達15nm運動控制機構可同時控制X,Y及4個Z軸,同步觸發,光學編碼器等。l  500MHz帶寬高性能脈沖激發裝置l  4塊集成在工控機內部的數模信號轉換卡(ADC卡),采樣頻率為1.25GSPS,整個系統采用4通道設置,采用數字示波器形式的A掃描波形實時顯示及界面捕捉,數據生成,歸檔,顯示當前區域的數據門限信號,多種掃描模式。l  Unique Acoustic Auto Focus 特有的自動聚焦功能具有專利保護的自動聚焦功能(專利號DE102006005449A1, acoustic auto focus 20...
          1、 掃描臺:第二代High Definition高清晰掃描臺;重復精度 0.05umX / Y 軸均為超高性能線性馬達(Y 軸為雙馬達)X / Y 軸具有內置磁力機構,配置儀器設備專用大理石防震臺和平衡慣性機構,確保掃描的穩定性在高速掃描過程中可隔絕振動的影響,可避免圖像因快速掃描而失真; 2. 前后雙探頭機構,可前后同時反射掃描,2倍單探頭掃描效率; 3. 前后每個探頭各自掃描范圍:最小:200 x 200 μm  最大:320 x 320 mm 4. 可自動尋找被測樣品的中心位置和樣品邊緣尺寸,自動設定掃描范圍 5. 最大掃描速度: 2,000mm/s,  X 軸最大加速度:20,000mm/s2 6. 接收發射器DPR 500帶寬:500MHz 7. ADC 卡采樣頻率:5G/秒 8. 支持探頭頻率:5MHz-400MHz  9. 增益調節窗口:-22dB-50dB, 更多功能高級菜單設置 10. 主要掃描模式:A-掃描、B-掃描、X-掃描 (多層C掃描)、Z-Staple 掃描(在不同的Z高度進行連續的C掃描)、多重門限掃描、T-Scan (透射掃描)、High Quality-高清晰掃描、表面跟蹤掃描、Z-Scan實體掃描模式、托盤矩陣掃描、 Z變換掃描、順序掃描預掃描、自動掃描、空位跳躍掃描、插值掃描、分頻掃描,Over Scan等; 11. 圖像分辨率最大≥ 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um/像素;12.  HiSA 高速實時自動聚焦功能(選項,可選前面1個HiSA 或前后2個HiSA ): 可根據樣品的翹曲情況(5mm以內),在掃描過程中實時調整焦距,即Z軸一邊掃描,一邊實時自動改變...
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          • 發布時間: 2019 - 03 - 12
            部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率3.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前后排列)、四探頭掃描系統,成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置使用要求;220V,50Hz ,去離子水備注:SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機型,SAM 301  UltraTec 超高速機型(雙馬達配置,掃描速度最高達 2000mm/s)SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機型,根據具體配置予以細分,滿足不同用戶需求;歡迎您來電咨詢,我們會根據您的產品檢測需要,為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級, 相關參數會有所變更,請以生產廠家確認為準。
          • 發布時間: 2019 - 03 - 12
            部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率3.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前后排列)、四探頭掃描系統,成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置
          • 發布時間: 2019 - 03 - 12
            部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級3 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備) 七  使用要求;220V,50Hz ,去離子水歡迎您來電咨詢,我們會根據您的產品檢測需要,為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級,相關參數會有所變更,請以生產廠家確認為準。
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