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          Products 產品詳情
          產品名稱: AM 300 基本型
          上市日期:2017-12-29
          • AM 300 基本型 AM 300 基本型
          • 產品參數
          • 適用范圍
          • 說明
          • 產品描述
          • 參數配置

          AM 300 基本型 主要技術參數:

          一? 機械部分:

          1. X/Y軸為步進馬達驅動,Z 軸行程 大于100mm ,Z軸自動對焦

          2. 掃描范圍:最小 0.20 mm ×0.20 mm?;最大?> 300mm×300 mm

          3. 最大掃描速率:1,000 mm/s

          4. 重復精度:+/- 0.5μm

          5. 標準工作水槽尺寸: 690 *520 * 70mm 或 690 * 520 * 150mm 或定制加長工作水槽,配置工字形樣品臺


          支持換能器(探頭)范圍:5MHz- 400MHz


          1. 前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率

          2. 各種樣品吸盤、夾具定制

          3. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、?共聚焦顯微鏡、?? ?X-Ray 等眾多顯微檢測設備)

          4、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置

          5、使用要求;?220V,50Hz ,去離子水

          軟件部分: Winsam 5.8 超聲掃描成像軟件、SAMnalysis IA 計算分析軟件 部分功能介紹:

          1. 主要掃描模式:A-(點掃描),B-(縱向掃描),C-(橫向掃描),D- 斜面掃描、G-/X-橫向多層掃描,P- 縱向多層掃描,3D掃描,Z-實體掃描,透射掃描(需配置透射掃描單元及接收探頭選項),S-掃描(透射+ C-掃描同時進行),HQ-高清掃描,順序掃描,自動掃描,Tray-托盤掃描,預掃描和快速預掃描等;

          2. 定量測量功能:分層面積百分比計算;缺陷尺寸標識;厚度與距離測量等?;聲阻抗計算等;

          3. 圖像著色功能:根據相位翻轉自動著色;根據灰度等級手動著色;根據渡越時間手動著色,根據厚度變化手動著色(已知材料的阻抗值)

          4. 圖像處理功能:包括圖像增強、濾波、平滑、銳利等常規的圖像處理功能;渡越時間分析;推拉窗口分析;厚度估計;聲速計算;波形比較分析;三維圖像顯示和分析;

          5. 圖像輸出格式:?bmp,jpg,sam等格式;

          6. 射頻增益窗口:-22dB-50dB , 高級菜單設置

          7. 圖像分辨率:≥ 8,000 * 8,000 像素,最高可支持 32000 * 32000 像素(基于ADC卡內存)


          專業工業控制計算機系統設置:

          基本配置:CPU 3.5 GHz, Intel 四核處理器,16GB 內存,1T硬盤,DVD-RW刻錄光驅,高速圖像卡,Windows 7 或 以上操作系統,USB及網絡接口,2臺 27' LCD 液晶顯示器, 配置防靜電操作臺


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          • 發布時間: 2017 - 12 - 29
            1. 前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、    X-Ray 等眾多顯微檢測設備)4、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置5、使用要求; 220V,50Hz ,去離子水
          • 發布時間: 2018 - 01 - 03
            部分可選項:  1.  大水槽,深水槽定制;各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)3.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)使用要求;220V,50Hz ,去離子水如需更為詳細資料,敬請來電來函索取,如軟件、硬件升級,相關參數會有所變更,請以生產廠家確認為準。
          • 發布時間: 2019 - 03 - 12
            部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.前后雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率3.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前后排列)、四探頭掃描系統,成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等眾多顯微檢測設備)5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置使用要求;220V,50Hz ,去離子水備注:SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機型,SAM 301  UltraTec 超高速機型(雙馬達配置,掃描速度最高達 2000mm/s)SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機型,根據具體配置予以細分,滿足不同用戶需求;歡迎您來電咨詢,我們會根據您的產品檢測需要,為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級, 相關參數會有所變更,請以生產廠家確認為準。
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