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AM 300 基本型
2017
-
12
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29
1. 前后雙工位系統，減少機器停頓時間，顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）4、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置5、使用要求； 220V，50Hz ，去離子水
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SAM 302 雙探頭掃描
2019
-
03
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12
德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級3. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備） 圖為左右排列雙探頭...
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